一、产品概述

仪器根据PN结的正向压降与其正向电流、温度的关系，研究PN结的伏安特性，测量波尔兹曼常数，估测半导体材料的禁带宽度，从而很好地学习和掌握一些重要的半导体物理知识。

二、实验内容

1、测量同一温度下，正向电压随正向电流的变化关系；

2、在同一恒定正向电流条件下，测绘PN结正向压降随温度的变化曲线，计算灵敏度，估算被测PN结材料的禁带宽度；

3、学习用Execl进行指数函数的曲线回归方法，并计算出玻尔兹曼常数；

4、探究：用给定的PN结测量未知温度。

三、技术参数

1、控温范围：室温～120℃，分辨率：0.1℃，PID控温精度：±0.2℃；

2、PN结传感器2个：S9013、C1815，小功率NPN晶体三极管的CB结短路而形成的PN结；

3、恒流源1nA～1mA分4段可调，最小分辨率1nA，开路电压：约5V；

4、微电流显示范围：10-9～2×10-6A，分辨率10-9A；

5、正向压降测量范围：0～2V，分辨率：1mV。

四、主要技术特点

1、开放式设计，提供多个通用式的温度插孔，可拓展性强。PN结传感器可以随时取出，进行实验和用于实际温度测量；

2、精确测量玻尔兹曼常数。没有采取常规的加正向压降测正向微电流的方法，而是设计了一个能稳定输出1nA～1mA范围的精密微电流源，解决了测量微电流跳字、不稳定的问题，能准确地测量正向压降；

3、常温下就能估测出绝对零度时硅材料的禁带宽度，无需冰水混合物。